El Rincón de Sergio

La Técnica de diagnóstico V-I

“Una elegante y poderosa técnica para el diagnóstico de circuitos impresos”

 

 

Si aún no has oído hablar de la técnica de diagnóstico V-I, déjame darte una Imprimación de los análisis de firmas analógicas.

 

El problema de la reparación de tarjetas se está haciendo cada vez más difícil, particularmente cuando nos enfrentamos a equipos nuevos muy populados con componentes SMD y microcontroladores. (Para saber cómo testear micro mira mi último artículo aquí)

Testear sistemas con tan masivo número de pines uno por uno, puede suponer una pesadilla para los técnicos y al final no se invierte el tiempo y no se repara el conjunto.

 

 

Para superar los retos que supone el diagnóstico de estos componentes hay sistemas disponibles en el mercado que nos permiten hacer una comparación de 2 componentes o 2 tarjetas electrónicas, para detectar fallos, evidentemente comparando contra la tarjeta buena o testeando canales simétricos.

 

Los análisis de firmas analógicas (ASA, también conocido como prueba V-I) es una poderosa técnica para el diagnóstico de fallas en placas de circuito impreso, y es el método de elección cuando se carece de los  esquemas y la documentación de los circuitos, también cuando no se puede alimentar la PCB con seguridad. La técnica se utiliza desde hace mucho tiempo, pero es todavía poco conocida o entendida.

 

Muchos de los potenciales clientes de esta tecnología como diseñadores de circuitos, departamentos de mantenimiento de equipos, empresas de reparación, no han utilizado nunca o no han oído hablar del test V-I, que tan solo consiste en aplicar una señal con un voltaje variable adecuado al componente bajo test y a continuación medir  la corriente resultante obteniendo un gráfico (firmas V-I) del mismo.

 

Curva caracteristica de un componente con barrido de frecuencia en 3D

 

Sí, efectivamente. Tan solo se trata de adquirir las curvas o firmas características de nuestros componentes en una tarjeta buena sin necesidad de desoldarlos y usar estas para compararlas con la tarjeta bajo sospecha. Un diferencia entre la curvas denotaría un potencial fallo, bien del componente bajo test (el que tenemos conectado) o la circuitería de alrededor, lo cual hace que traqueemos fallos más rápido gracias a poder testear dentro del circuito.

 

Entendiendo la técnica

 

Para adquirir las curvas características de un componente nos podemos valer de los canales disponibles en la soluciones que parten desde los 32 a hasta los 2048. Lo más común es hasta 128 canales donde tenemos suficiente número de pines para testear CI de hasta 128 patas y conectores de borde con el mismo número.

El sistema se encarga automáticamente de adquirir y guardar las hasta 128 firmas, para su posterior comparación y análisis.

 

Puedes ver más acerca del V-I en el siguiente video explicativo. Por favor no te olvides de comentar y compartir. Gracias.

 

 

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